產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
AV6416掌上型光時(shí)域反射計(jì)AV6416AV6416掌上型光時(shí)域反射計(jì)AV6416AV6416掌上型光時(shí)域反射計(jì)AV6416
詳情介紹：
AV6416掌上型光時(shí)域反射計(jì)AV6416
AV6416掌上型光時(shí)域反射計(jì)AV6416
AV6416掌上型光時(shí)域反射計(jì)主要用于對(duì)FTTx網(wǎng)路的測(cè)試。該產(chǎn)品為用戶提供了一種低成本的測(cè)試方案，具有手動(dòng)測(cè)試、自動(dòng)測(cè)試和盲區(qū)測(cè)試3種模式。
手動(dòng)測(cè)試模式：該測(cè)試模式適于那些對(duì)該儀器比較了解的熟練操作者，因此能夠得到更加準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果。在手動(dòng)測(cè)試模式中，用戶可根據(jù)測(cè)試需要選擇實(shí)時(shí)測(cè)試模式或平均測(cè)試模式，實(shí)時(shí)測(cè)試可快速檢測(cè)光纖鏈路的動(dòng)態(tài)變化，應(yīng)用于需要實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)或觀察光纖鏈路的對(duì)接過(guò)程及效果。
平均測(cè)試模式：該模式適用于對(duì)狀態(tài)穩(wěn)定光纖鏈路的測(cè)試，應(yīng)用平均測(cè)試模式可以盡*大可能地抑制測(cè)試曲線中的噪聲，從而得到更加**的測(cè)試結(jié)果。在平均測(cè)試模式中，平均次數(shù)的大小將影響*測(cè)試曲線中噪聲的抑制效果，平均次數(shù)越大，則對(duì)噪聲的抑制效果越好，但測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)的加長(zhǎng)，因此，在實(shí)際使用中要根據(jù)需要設(shè)置平均次數(shù)。
盲區(qū)測(cè)試模式：該模式適用于對(duì)超短距離光纖的測(cè)試，如測(cè)試光纖跳線的長(zhǎng)度等，在該模式下，如希望儀器獲得*好的測(cè)試結(jié)果，要求被測(cè)光纖末端的反射損耗(或稱回波損耗)大于40dB。
AV6416掌上型光時(shí)域反射計(jì)AV6416
主要特點(diǎn)
1. 掌上型、重量輕、便于攜帶
2. 業(yè)界*先進(jìn)的雙色雙料一體化防濺式模具工藝，堅(jiān)固耐用
3. **防反射LCD，野外環(huán)境下顯示界面清晰可見(jiàn)
4. 1.6m超短事件盲區(qū)，測(cè)試光纖跳線輕松自如
5. 具有自動(dòng)及手動(dòng)測(cè)試功能
6. 雙USB接口功能，既可外接U盤(pán)，也能通過(guò)
7. ActiveSync軟件與PC機(jī)通信
8. 支持Bellcore GR196文件格式
9. 智能電池電量指示及電池低電壓告警功能
10. WinCE視窗操作系統(tǒng)，中英文操作界面
11. 10小時(shí)超長(zhǎng)電池續(xù)航時(shí)間，適于長(zhǎng)時(shí)間野外施工
12. VFL可視故障定位功能
13. OTDR光輸出頭采用可更換方式，端面清潔更加方便
AV6416掌上型光時(shí)域反射計(jì)主要用于對(duì)FTTx網(wǎng)路的測(cè)試。該產(chǎn)品為用戶提供了一種低成本的測(cè)試方案，具有手動(dòng)測(cè)試、自動(dòng)測(cè)試和盲區(qū)測(cè)試3種模式。
手動(dòng)測(cè)試模式：該測(cè)試模式適于那些對(duì)該儀器比較了解的熟練操作者，因此能夠得到更加準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果。在手動(dòng)測(cè)試模式中，用戶可根據(jù)測(cè)試需要選擇實(shí)時(shí)測(cè)試模式或平均測(cè)試模式，實(shí)時(shí)測(cè)試可快速檢測(cè)光纖鏈路的動(dòng)態(tài)變化，應(yīng)用于需要實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)或觀察光纖鏈路的對(duì)接過(guò)程及效果。
平均測(cè)試模式：該模式適用于對(duì)狀態(tài)穩(wěn)定光纖鏈路的測(cè)試，應(yīng)用平均測(cè)試模式可以盡*大可能地抑制測(cè)試曲線中的噪聲，從而得到更加**的測(cè)試結(jié)果。在平均測(cè)試模式中，平均次數(shù)的大小將影響*測(cè)試曲線中噪聲的抑制效果，平均次數(shù)越大，則對(duì)噪聲的抑制效果越好，但測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)的加長(zhǎng)，因此，在實(shí)際使用中要根據(jù)需要設(shè)置平均次數(shù)。
盲區(qū)測(cè)試模式：該模式適用于對(duì)超短距離光纖的測(cè)試，如測(cè)試光纖跳線的長(zhǎng)度等，在該模式下，如希望儀器獲得*好的測(cè)試結(jié)果，要求被測(cè)光纖末端的反射損耗(或稱回波損耗)大于40dB。
