ICT-384測試模組是河洛 AT3-300A/AL 以及 FT-940 測試系統(tǒng)的核心，是由4組的ICT-96測試單元所構(gòu)成。本測試模組負(fù)責(zé)提供高達(dá)32顆IC進(jìn)行平行測試所須的測試信號.

主要特點

• 硬體：

  共計 96 x 4 = 384測試通道

  100 MHz時脈

  0~7V VCC及0~14.5V VPP共2組直流電源供應(yīng)

  電流解析度︰IDD - 0.76uA，Leakage - 0.049uA

  I/O驅(qū)動能力彈性化，可為TTL、CMOS及低壓元件提供參考電壓

  具備1 M bytes SDRAM記憶長度，可記憶控制程式或數(shù)據(jù)資料

  內(nèi)藏式USB 2.0集線器介面

  內(nèi)藏式溫度感知器以控制測試穩(wěn)定度

  
   
• 軟體：

  所用語言 – Paradigm V6.21 C language

  DC測試 – Leakage High/Low，IDD Active/Standby，VIL/VIH，

                      VOL/VOH

  功能測試 – ID Check，Code Protection，Memory Erase/Write/Read，

                       Erase/Write Margin，Speed Test…等.

  測試流程 – Open/Short → Serial DC tests → Parallel Function tests →

                        Software Binning → Test Summary

  
   
• 服務(wù)：

  將為所有委測客戶免費提供其委測IC測試程式的撰寫

  撰寫測試程式所須的資料︰

         - 測試規(guī)格 (測試流程 / 測試條件)，功能性測試所需 test vectors /

            test patterns

         - 測試結(jié)果分類 (software / hardware binning)，IC封裝尺寸及IC樣品