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測(cè)量功能 |
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測(cè)量參數(shù) |
|Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR |
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選件001 |
增加DCR（直流電阻），N（匝數(shù)比）和M（互感）測(cè)量 |
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測(cè)量電路形式 |
串聯(lián)和并聯(lián) |
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數(shù)學(xué)功能 |
偏差和百分偏差 |
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測(cè)試電纜長(zhǎng)度 |
0m,1m,2m,4m,(頻率=100/120/1kHz);0m,1m,2m(頻率=10kHz/20kHz);0m,1m(頻率=100kHz) |
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測(cè)試信號(hào)數(shù)據(jù) |
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測(cè)試頻率 |
100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz |
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選件002 |
增加20kHz測(cè)試頻率 |
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頻率精度 |
±0.01%（頻率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz),±(10%+10mV) |
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輸出阻抗 |
100Ω±10%,25Ω±10%(≤1Ω量程） |
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交流測(cè)試信號(hào)電平 |
20mV~1Vrms,以5mVrms分檔 |
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精度 |
±（10%+10mV) |
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內(nèi)部直流偏置 |
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電平 |
1.5和2V；精度：±（5%+2mV) |
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外部直流偏置 |
0~+2.5V |
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測(cè)量范圍 |
參數(shù) |
測(cè)量范圍 |
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|Z|,R,X |
1mΩ-100MΩ |
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|Y|,G,B |
10nS-1000S |
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C |
1pF-1F |
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L |
10nH-100kH |
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D |
0.0001-9.9999 |
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Q |
0.1-9999.9 |
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θ |
-180°~+180° |
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DCR |
1mΩ-100MΩ |
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N |
0.9-200（待定） |
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L,M |
1μH-100H（待定） |
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Δ% |
-999.99%-+999.99% |
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測(cè)量精度： |
±0.1%(基本精度）（適用于|Z|,R,X,|Y|,G,B,CL) |
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測(cè)量時(shí)間 |
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模式 |
時(shí)間（典型值） |
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短 |
25ms |
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中等 |
65ms |
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長(zhǎng) |
500ms |
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測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視器： |
電壓和電流 |
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前端保護(hù)： |
當(dāng)充電電容器連接到輸入端時(shí)內(nèi)部電路便函起保護(hù)作用。*大電容器電壓為；在
Vmax≤250V時(shí)，Vmax=√(8/C)(典型值）；在Vmax≤1000V時(shí)，Vmax=√(2/C)(典型值），C單位為F。 |
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顯示數(shù)字： |
3，4或5位（可選擇） |
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修正功能： |
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開(kāi)路/短路誤差為0： |
消除由測(cè)量夾具中雜散寄生阻抗引起的測(cè)量誤差 |
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負(fù)載： |
利用一個(gè)已校器件作為參考來(lái)改善測(cè)量的精度 |
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比較功能： |
對(duì)每個(gè)一次測(cè)量參數(shù)和二次測(cè)量參數(shù)給出高/符合/低（HEGH/IN/LOW）比較結(jié)果 |
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接觸檢查功能： |
可以檢測(cè)測(cè)試夾具與器件之間的接觸故障。接觸檢查的附加時(shí)間為5ms |
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其它功能 |
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存儲(chǔ)/調(diào)用： |
可以存儲(chǔ)和從內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器調(diào)用10個(gè)儀器設(shè)置 |
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連續(xù)存儲(chǔ)功能： |
若儀器補(bǔ)關(guān)斷或出現(xiàn)電源故障。儀器設(shè)置（直流偏置接通/切斷除外）將自動(dòng)被存儲(chǔ)起來(lái)（在23°±5℃下≦72小時(shí)） |
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GPIB接口 |
所有控制設(shè)置，被測(cè)值和比較器信息 |
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處理器接口 |
所有輸出信號(hào)均為負(fù)邏輯，光隔離的開(kāi)路集電極。輸出信號(hào)包括HIGH/IN/LOW，不接觸，序號(hào)，測(cè)量結(jié)束和報(bào)警。輸入信號(hào)包括鍵鎖定和外觸發(fā) |
一般技術(shù)指標(biāo)：
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電源要求 |
90-132V或198-264V，47-66Hz，45VAmax |
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工作溫度 |
0-45℃ |
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尺寸 |
320mm(寬）*100mm(高）*300mm(長(zhǎng)）（12.6英寸*3.94英寸*11.81英寸） |
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重量： |
4.5kg(9.9磅） |
主要技術(shù)資料
263B LCR測(cè)試儀產(chǎn)品介紹，p/n 5964-6181E
有效電解電容器測(cè)試，p/n 5967-5378E
有效變壓器/低頻線圈測(cè)試，p/n5967-5377E |
